C测试仪
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产品名称: C测试仪
产品型号: 3506-10
产品展商: 日本日置
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简单介绍
C测试仪 3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
根据BIN的测定区分容量
C测试仪
的详细介绍
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| C测试仪 3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试 |
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- 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
- 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
- 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
- 根据BIN的测定区分容量
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| 输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件。 ※RS-232C用连接线可以使用支持网络连接的市面上销售的交叉线。RS-232C连接线9637除硬件流控制之外的情况下可以使用。 |
| C测试仪 3506-10基本参数 |
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| 测量参数 |
C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
| 测量范围 |
C:0.001fF～15.0000μF
D: 0.00001 ～ 1.99999
Q:0.0 ～ 19999.9 |
| 基本精度 |
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 |
| 测量频率 |
1kHz, 1MHz |
| 测量信号电平 |
500mV, 1V rms |
| 输出电阻 |
1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
| 显示 |
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
| 测量时间 |
1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz |
| 机能 |
BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C拒绝功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
| 电源 |
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, *大40VA |
| 体积及重量 |
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
| 附件 |
电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1 |
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